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Image Interpretation of Aberration Corrected Electron Microscopy

Image Interpretation of Aberration Corrected Electron Microscopy
像差校正电子显微镜的图像解释
批准号：
333124-2006
负责人：
Stolle, Jonathan
金额：
$1.27万
依托单位：
McGill University
依托单位国家：
加拿大
项目类别：
Alexander Graham Bell Canada Graduate Scholarships - Master's
财政年份：
2006
资助国家：
加拿大
项目状态：
已结题
起止时间：
2006-01-01 至 2007-12-31
来源：
https://www.nserc-crsng.gc.ca/ase-oro/Details-Detailles_eng.asp?id=324302
关键词：
ImageInterpretationAberrationCorrectedElectron

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Phase field crystal modeling of phase transformation in alloys
  • 批准号：
    392495-2010
  • 项目类别：
    Alexander Graham Bell Canada Graduate Scholarships - Doctoral
  • 资助金额：
    $2.55万
  • 财政年份：
    2011
  • 负责人：
    Stolle, Jonathan
  • 依托单位：
    McMaster University
Phase field crystal modeling of phase transformation in alloys
  • 批准号：
    392495-2010
  • 项目类别：
    Alexander Graham Bell Canada Graduate Scholarships - Doctoral
  • 资助金额：
    $2.55万
  • 财政年份：
    2010
  • 负责人：
    Stolle, Jonathan
  • 依托单位：
    McMaster University
Image Interpretation of Aberration Corrected Electron Microscopy
  • 批准号：
    333124-2007
  • 项目类别：
    Postgraduate Scholarships - Master's
  • 资助金额：
    $1.26万
  • 财政年份：
    2007
  • 负责人：
    Stolle, Jonathan
  • 依托单位：
    McGill University
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