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Quantum Electron Microscopy: an interaction-free measurement approach to eliminate beam-induced damage to sensitive samples

Quantum Electron Microscopy: an interaction-free measurement approach to eliminate beam-induced damage to sensitive samples
量子电子显微镜：一种无相互作用的测量方法，可消除电子束对敏感样品造成的损坏
批准号：
502848-2017
负责人：
Abedzadeh, Navid
金额：
$1.53万
依托单位：
Massachusetts Institute of Technology
依托单位国家：
加拿大
项目类别：
Postgraduate Scholarships - Doctoral
财政年份：
2019
资助国家：
加拿大
项目状态：
已结题
起止时间：
2019-01-01 至 2020-12-31
来源：
https://www.nserc-crsng.gc.ca/ase-oro/Details-Detailles_eng.asp?id=686163
关键词：
QuantumElectronMicroscopyinteractionfree

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electron microscopy, Quantum Electron Microscope, Interaction-free Measurement, microscopy of biological samples, damage-free microscopy, quantum interrogation techniques, electron entanglement, electron mirror, electron grating mirror, nanotechnology
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Quantum Electron Microscopy: an interaction-free measurement approach to eliminate beam-induced damage to sensitive samples
  • 批准号：
    502848-2017
  • 项目类别：
    Postgraduate Scholarships - Doctoral
  • 资助金额：
    $1.53万
  • 财政年份：
    2018
  • 负责人：
    Abedzadeh, Navid
  • 依托单位：
    Massachusetts Institute of Technology
Quantum Electron Microscopy: an interaction-free measurement approach to eliminate beam-induced damage to sensitive samples
  • 批准号：
    502848-2017
  • 项目类别：
    Postgraduate Scholarships - Doctoral
  • 资助金额：
    $1.53万
  • 财政年份：
    2017
  • 负责人：
    Abedzadeh, Navid
  • 依托单位：
    Massachusetts Institute of Technology
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