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基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究
结题报告
批准号:
90407009
项目类别:
重大研究计划
资助金额:
30.0 万元
负责人:
胡晨
依托单位:
学科分类:
F0402.集成电路设计
结题年份:
2007
批准年份:
2004
项目状态:
已结题
项目参与者:
杨军、景为平、李锐、张哲、李杰、包志华、陈海进、孟维佳、顾明
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中文摘要
本项目针对未来系统芯片(SoC)测试成本非线性增加的严重挑战,提出了测试压缩率极高的Multi-capture(MC)测试,减小了测试数据传输对测试带宽的需求;结合局部扫描的测试算法,使之具备At-speed结构测试的能力。解决测试成本增加的另一有效途径是逻辑内建自测试(LBIST),本课题拟从高层测试综合的角度解决LBIST的故障覆盖率过低的问题;同样结合局部扫描测试算法,使得LBIST具备At
英文摘要
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专利列表
DOI:--
发表时间:--
期刊:电路与系统学报 Vol.12 No.2 pp.89(2007.4)
影响因子:--
作者:
通讯作者:
DOI:--
发表时间:--
期刊:电路与系统学报 Vol.12,No.5,(2007.10)p12
影响因子:--
作者:张宇*;凌明;浦汉来;周凡
通讯作者:周凡
DOI:--
发表时间:--
期刊:应用科学学报 Vol.25 No.1 pp.46(2007.1)
影响因子:--
作者:顾明*;杨军;张启晨;高谷刚
通讯作者:高谷刚
DOI:--
发表时间:--
期刊:应用科学学报 Vol.23 No.1 pp.61(2005.1)
影响因子:--
作者:谢永明*;李锐;杨军
通讯作者:杨军
DOI:--
发表时间:--
期刊:电路与系统学报 Vol.12 No.1 pp.26(2007.2)
影响因子:--
作者:黄少珉*;张哲;胡晨;戚隆宁
通讯作者:戚隆宁
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