基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究
批准号：
90407009
项目类别：
重大研究计划
资助金额：
30.0 万元
负责人：
胡晨
依托单位：
学科分类：
集成电路设计
结题年份：
2007
批准年份：
2004
项目状态：
已结题
项目参与者：
杨军、景为平、李锐、张哲、李杰、包志华、陈海进、孟维佳、顾明
项目摘要
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项目成果
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中文摘要
本项目针对未来系统芯片（SoC）测试成本非线性增加的严重挑战，提出了测试压缩率极高的Multi-capture（MC）测试，减小了测试数据传输对测试带宽的需求；结合局部扫描的测试算法，使之具备At-speed结构测试的能力。解决测试成本增加的另一有效途径是逻辑内建自测试（LBIST），本课题拟从高层测试综合的角度解决LBIST的故障覆盖率过低的问题；同样结合局部扫描测试算法，使得LBIST具备At
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DOI：
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发表时间：
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期刊：
电路与系统学报 Vol.12 No.2 pp.89(2007.4)
影响因子：
--
作者：
[]
通讯作者：
DOI：
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发表时间：
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期刊：
电路与系统学报 Vol.12,No.5,(2007.10)p12
影响因子：
--
作者：
[张宇*, 凌明, 浦汉来, 周凡]
通讯作者：
周凡
DOI：
--
发表时间：
--
期刊：
应用科学学报 Vol.25 No.1 pp.46(2007.1)
影响因子：
--
作者：
[顾明*, 杨军, 张启晨, 高谷刚]
通讯作者：
高谷刚
DOI：
--
发表时间：
--
期刊：
应用科学学报 Vol.23 No.1 pp.61(2005.1)
影响因子：
--
作者：
[谢永明*, 李锐, 杨军]
通讯作者：
杨军
DOI：
--
发表时间：
--
期刊：
电路与系统学报 Vol.12 No.1 pp.26(2007.2)
影响因子：
--
作者：
[黄少珉*, 张哲, 胡晨, 戚隆宁]
通讯作者：
戚隆宁
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