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基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究
结题报告
批准号：
90407009
项目类别：
重大研究计划
资助金额：
30.0 万元
负责人：
胡晨
依托单位：
学科分类：
F0402.集成电路设计
结题年份：
2007
批准年份：
2004
项目状态：
已结题
项目参与者：
杨军、景为平、李锐、张哲、李杰、包志华、陈海进、孟维佳、顾明
国基评审专家1V1指导 中标率高出同行96.8%
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中文摘要
本项目针对未来系统芯片（SoC）测试成本非线性增加的严重挑战，提出了测试压缩率极高的Multi-capture（MC）测试，减小了测试数据传输对测试带宽的需求；结合局部扫描的测试算法，使之具备At-speed结构测试的能力。解决测试成本增加的另一有效途径是逻辑内建自测试（LBIST），本课题拟从高层测试综合的角度解决LBIST的故障覆盖率过低的问题；同样结合局部扫描测试算法，使得LBIST具备At
英文摘要
期刊论文列表
专著列表
科研奖励列表
会议论文列表
专利列表
DOI：--
发表时间：--
期刊：电路与系统学报 Vol.12 No.2 pp.89(2007.4)
影响因子：--
作者：
通讯作者：
DOI：--
发表时间：--
期刊：电路与系统学报 Vol.12,No.5,(2007.10)p12
影响因子：--
作者：张宇*;凌明;浦汉来;周凡
通讯作者：周凡
DOI：--
发表时间：--
期刊：应用科学学报 Vol.25 No.1 pp.46(2007.1)
影响因子：--
作者：顾明*;杨军;张启晨;高谷刚
通讯作者：高谷刚
DOI：--
发表时间：--
期刊：电子工程师 Vol.32 No.1 pp.73(2006.1)
影响因子：--
作者：
通讯作者：
DOI：--
发表时间：--
期刊：应用科学学报 Vol.23 No.1 pp.61(2005.1)
影响因子：--
作者：谢永明*;李锐;杨军
通讯作者：杨军
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