室温铁磁性的起源是当前自旋电子学稀磁半导体材料基础研究的核心问题之一，而掺杂元素的原子/电子结构和磁结构的探测是研究稀磁半导体（ZnO:Mn等）室温铁磁性起源等问题的重要途径。特别是由于掺杂和空位缺陷导致的局域结构扭曲、电荷转移、轨道杂化和局域磁有序等精细信息的体相信号测量实验方法的实现，成为人们的追求目标。本项目根据共振非弹性X射线（RIXS）谱学方法能够给出特定元素的原子/电子结构和磁结构等信息，依托北京同步辐射装置XRF站，改进共振非弹性X射线散射谱仪探测系统，完成ZnO（GaN）材料掺Mn元素等自旋极化高分辨吸收谱和RIXS谱测量，研究Mn元素等局域结构、电荷转移、轨道杂化和局域磁有序等信息，明确掺杂原子的磁特性与其电子结构和几何结构的关系，为研究稀磁半导体室温铁磁性的起源等问题的微观机理提供实验依据，同时也为我国科学工作者提供一种新的原子/电子结构和磁结构研究平台。