基于广义椭偏的偏光片极细微透明外观缺陷检测方法
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基于结构光视觉的偏光片内部压痕缺陷检测方法研究
- 批准号:61571306
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:63.0万元
- 批准年份:2015
- 负责人:邓元龙
- 依托单位:
外差干涉椭偏测量技术中的非线性误差研究
- 批准号:60978041
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:30.0万元
- 批准年份:2009
- 负责人:邓元龙
- 依托单位:
国内基金
海外基金
