基于广义椭偏的偏光片极细微透明外观缺陷检测方法
批准号:
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项目类别:
面上项目
资助金额:
57 万元
负责人:
邓元龙
依托单位:
学科分类:
光学信息获取、显示与处理
结题年份:
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批准年份:
2021
项目状态:
未结题
项目参与者:
邓元龙
基于结构光视觉的偏光片内部压痕缺陷检测方法研究
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批准号:61571306
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项目类别:面上项目
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资助金额:63.0万元
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批准年份:2015
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负责人:邓元龙
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依托单位:
外差干涉椭偏测量技术中的非线性误差研究
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批准号:60978041
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项目类别:面上项目
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资助金额:30.0万元
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批准年份:2009
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负责人:邓元龙
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依托单位:
国内基金
海外基金