应力效应是影响铁电材料多方面性能甚至器件可靠性的重要问题，而具有层状钙钛矿结构的各种掺杂Bi4Ti3O12是兼具PZT和SBT优点因而极具应用前景的新型微电子材料。本项目拟选择在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上以MOD法为主制备的La、Nd等掺杂的Bi4Ti3O12低维材料（BMT）为主要研究对象，采用宏观电性能测试与微观畴观察相结合、理论与实验相结合的手段，系统研究外应力和尺寸效应协同作用对该类铁电低维材料各方面特性的影响，意图理清应力效应现存的两种机制――晶格机制和电畴机制之间的辩证关系，揭示应力影响材料微观静态和动态特性，进而影响宏观电学性能的物理本质和模型机制，为铁电材料性能和可靠性的提高及高密度应用提供科学依据。