HfO2本征缺陷态对MRAM磁化翻转机理的理论研究
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半导体缺陷态和界面态辅助带间隧穿的量子力学机理及其在隧穿晶体管中的应用
- 批准号:11574304
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:62.0万元
- 批准年份:2015
- 负责人:文宏玉
- 依托单位:
国内基金
海外基金
