课题基金 / 基金详情

氮化铟基化合物半导体量子结构研究

批准号:
60476047
项目类别:
面上项目
资助金额:
25.0 万元
负责人:
戴宪起
依托单位:
学科分类:
半导体器件物理
结题年份:
2007
批准年份:
2004
项目状态:
已结题
项目参与者:
刘自信、危书义、王广涛、楚兴丽、黄凤珍、琚伟伟、吴新华

项目摘要

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项目成果

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中文摘要
InN是目前人们最赶兴趣的重要课题,最新研究表明,InN具有0.7-0.8eV的直接带隙,而且它不同于一般半导体,在InN的表面附近有大量的电荷积累。这些特性使得它在电子元件制造中获得良好的金属-半导体接触更为容易,在光电子器件、红外探测器、低成本太阳能电池及短波半导体激光器方面具有诱人的应用前景。该项研究主要从理论上研究缺陷对InN能带结构的影响;不同InN的表面及其与金属、半导体界面结构和电子
英文摘要
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专利列表
Bulit-in electric field effect
内置电场效应
DOI: --
发表时间: --
期刊:
影响因子: --
作者: [C. X. Xia, S. Y. Wei]
通讯作者: S. Y. Wei
DOI: --
发表时间: --
期刊:
影响因子: --
作者: [C. X. Xia, S. Y. Wei]
通讯作者: S. Y. Wei
DOI: --
发表时间: --
期刊: 河南师范大学学报(自然科学版)Vol 33(4),(2005)38-42
影响因子: --
作者: [戴宪起, 郑冬梅, 黄凤珍]
通讯作者: 黄凤珍
DOI: --
发表时间: --
期刊: 河南师范大学学报(自然科学版)Vol 34(4), (2006)211
影响因子: --
作者: [戴宪起, 阎慧娟, 王建利]
通讯作者: 王建利
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    BAs与金属半导体相互作用的研究
    • 批准号:
      62074053
    • 项目类别:
      面上项目
    • 资助金额:
      59.0万元
    • 批准年份:
      2020
    • 负责人:
      戴宪起
    • 依托单位:
    二维过渡金属硫化物畴界缺陷研究
    • 批准号:
      61674053
    • 项目类别:
      面上项目
    • 资助金额:
      65.0万元
    • 批准年份:
      2016
    • 负责人:
      戴宪起
    • 依托单位:
    国内基金
    海外基金