High-Resolution Diffraction Microscopy Using the Plane-Wave Field of a Nearly Diffraction-Limited Focusing X ray

High-Resolution Diffraction Microscopy Using the Plane-Wave Field of a Nearly Diffraction-Limited Focusing X ray
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使用近衍射极限聚焦 X 射线的平面波场的高分辨率衍射显微镜

DOI:
--
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发表时间:
2009
期刊:
Physical Review B 80
影响因子:
--
通讯作者:
K.Yamauchi
K.Yamauchi
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Y.Takahashi;Y.Nishino;R.Tsutsumi;H.Kubo;H.Furukawa;H.Mimura;S.Matsuyama;N.Zettsu;E.Matsubara;T.Ishikawa;K.Yamauchi

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