Accurate Failure Rate Prediction Based on Gaussian Process Using WAT Data
Accurate Failure Rate Prediction Based on Gaussian Process Using WAT Data
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利用WAT数据基于高斯过程的准确故障率预测
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Michihiro Shintani
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Makoto Eiki;Tomoki Nakamura;Masuo Kajiyama;Michiko Inoue;and Michihiro Shintani
通过分层高斯过程进行多站点 RF IC 测试的晶圆级变异建模
DOI：
10.1109/itc50571.2021.00018
发表时间：
2021
期刊：
2021 IEEE International Test Conference (ITC)
影响因子：
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作者：
Michihiro Shintani;Riaz;Tomoki Nakamura;Masuo Kajiyama;Makoto Eiki;M. Inoue
通讯作者：
M. Inoue
采用渐进式采样的时空晶圆级相关建模：HVM 良率估算的途径
DOI：
10.1109/test.2014.7035325
发表时间：
2014
期刊：
2014 International Test Conference
影响因子：
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作者：
A. Ahmadi;K. Huang;S. Natarajan;J. Carulli;Y. Makris
通讯作者：
Y. Makris