FIB/REM-System (Focussed Ion Beam kombiniert mit Rasterelektronenmikroskop)
FIB/REM-System (Focussed Ion Beam kombiniert mit Rasterelektronenmikroskop)
批准号:
121448065
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2009
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2008-12-31 至 --
中文摘要
他说:“Bisher给了我一个建议,并提出了Universität Siegen kein vergleichbares系统。德国<s:1> beraus vielfältigen Einsatzmöglichkeiten德国beantragten Gerätes德国spiegeln,德国spiegeln,德国spiegeln - ellten,德国spiegeln - ellten,德国spiegeln - ellten,德国spiegeln - ellten,德国Werkstoff- und纳米技术<e:1>,德国物理化学和Festkörperphysik德国德国zur,德国Quantenelektronik ersteck。技术与技术研究中心(könnten),技术与技术研究中心(gestärkt)和技术与技术研究中心(konkurrenzfähig)。iminzelnen liegen die Anwendungsschwerpunkte f<e:1> r die Werkstofftechnik bei der 3D-Analytik (EBSD und EDX) metallischer Proben der schichtsystem, der zielgerichteten Entnahme von TEM-Proben, des Micromachining von Spitzen(纳米压头,AFM) sowie der elektronischen kontaktiung von Nanostrukturen。In den Bereichen Höchstfrequenztechnik und Festkörperphysik wrden vorwiegend die strukturierung - und Micromachiningmöglichkeiten des FIB-Systems zur Nanostrukturierung von Kompositen, zum erzegen von 3D-Nahfeldsonden sowie zum gezelen von Halbleiterstrukturen genutzt werden。德国工业与化学研究所(dachhgebiet):德国工业与化学研究所(dachhgebiet):德国工业与化学研究所(hachhgebiet):德国工业与化学研究所(hachleistungsbeton):德国工业与化学研究所(Hochleistungsbeton):德国工业与化学研究所(Hochleistungsbeton):德国工业与化学研究所(Hochleistungsbeton)”
英文摘要
„Bisher gibt es an der Universität Siegen kein vergleichbares System. Die überaus vielfältigen Einsatzmöglichkeiten des beantragten Gerätes spiegeln sich anhand des breit aufgestellten Nutzerkreises wider, der sich von Werkstoff- und Nanotechnologie über physikalische Chemie und Festkörperphysik bis hin zur Höchstfrequenztechnik und Quantenelektronik erstreckt. Alle Fachgebiete könnten erheblich von der Beschaffung einer FIB-Anlage profitieren, wodurch die Forschung in diesen Bereichen bedeutend gestärkt und konkurrenzfähig bleiben würde. Im einzelnen liegen die Anwendungsschwerpunkte für die Werkstofftechnik bei der 3D-Analytik (EBSD und EDX) metallischer Proben oder Schichtsysteme, der zielgerichteten Entnahme von TEM-Proben, des Micromachining von Spitzen (Nanoindenter, AFM) sowie der elektronischen Kontaktierung von Nanostrukturen. In den Bereichen Höchstfrequenztechnik und Festkörperphysik würden vorwiegend die Strukturierungs- und Micromachiningmöglichkeiten des FIB-Systems zur Nanostrukturierung von Kompositen, zum Erzeugen von 3D-Nahfeldsonden sowie zum gezielten Dotieren von Halbleiterstrukturen genutzt werden. Das Fachgebiet Bau- und Werkstoffchemie würde vor allem von den analytischen Möglichkeiten einer FIB-Anlage Gebrauch machen, um komplexe Untersuchungen von Strukturen, Gefügen und Prozessen moderner Bauwerkstoffe (Hochleistungsbeton) zu realisieren.“
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专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI:
10.1007/s11085-013-9374-2
发表时间:
2013-02
期刊:
Oxidation of Metals
影响因子:
2.2
作者:
[S. Majumdar;S. Burk;D. Schliephake;M. Krüger;H. Christ;M. Heilmaier]
通讯作者:
S. Majumdar;S. Burk;D. Schliephake;M. Krüger;H. Christ;M. Heilmaier
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