In-situ Röntgen-Diffraktometer

在Bauelementen Angewandt中，有组织的Halbleiter在Dünnen Schichten(Einige Nm Bis Einige Hundert Nm)中存在。他说：“这是一种特殊的形态，它的作用是什么？”所有的战争都发生在我们的控制之下，这是一种不受控制的现象。在贝丁根根的控制下，他在这里死去。韦特尔欣将在Verschiedenen Stadien和Herstellung zu charakterisieren的历史中找到Möglich，Schichten von BauElement-Strukturen。Schlie？lich bietet das Gerät noch die Möglichkeit，die Morphologie der Schichten der DEM Eflatur der Konzentation von eingelassengasförmien Stoffen in原位zu unteruchenen.MIT Diesem Gerät erhalten die fünf Forschergruppen des DC-IAPP völlig Neue Möglichkeiten für ihre Forschung an Organchen en Halbleitern.

Organische Halbleiter werden in dünnen Schichten (einige nm bis einige hundert nm) untersucht und in Bauelementen angewandt. Die Schichtmorphologie spielt für die Funktion der Bauelemente eine entscheidende Rolle. Allerdings war es bislang nicht möglich, diese in kontrollierter Weise zu untersuchen, da hierfür die Proben an Luft ausgeschleust werden mussten, was zu unkontrollierten Veränderungen führen kann. Durch die hier beantragte Anlage kann dies unter kontrollierten Bedingungen erfolgen. Weiterhin wird es auch erstmals möglich, Schichten von Bauelement-Strukturen in verschiedenen Stadien der Herstellung zu charakterisieren. Schließlich bietet das Gerät noch die Möglichkeit, die Morphologie der Schichten unter dem Einfluss der Temperatur und der Konzentration von eingelassenen gasförmigen Stoffen in situ zu untersuchen. Mit diesem Gerät erhalten die fünf Forschergruppen des DC-IAPP völlig neue Möglichkeiten für ihre Forschung an organischen Halbleitern.