Electrostatically induced voltage generated in an electronic equipment when a charged body moves away from an ungrounded electronic equipment of floating potential
Electrostatically induced voltage generated in an electronic equipment when a charged body moves away from an ungrounded electronic equipment of floating potential
当带电体远离浮动电位的未接地电子设备时，电子设备中产生的静电感应电压
批准号：
18K04107
负责人：
Ichikawa Norimitsu
金额：
$2.83万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2018
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2018-04-01 至 2021-03-31
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編集後記
编者注
编者注
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
帝京医学雑誌
影响因子：
--
作者：
[稲葉毅, 福島亮治, 池田佳史, 小出泰平, 堀川昌宏, 井上泰介, 小川越史, 小林美香, 福島亮治]
通讯作者：
福島亮治
Electrical injury rate and epidemiology in Japan, 2013-2015
2013-2015年日本触电伤害率及流行病学
2013-2015年日本触电伤害率及流行病学
DOI：
10.1109/tia.2020.2982855
发表时间：
2020
期刊：
IEEE Transactions on Industry Applications
影响因子：
4.4
作者：
[M Kubota, Y Mori, S B Kim and H Ueda, 山本卓海，長塚勝利，小平大輔，近藤潤次, Norimitsu Ichikawa]
通讯作者：
Norimitsu Ichikawa
BEMSにおけるEMC
BEMS 中的 EMC
BEMS 中的 EMC
DOI：
--
发表时间：
2020
期刊：
月刊EMC -電磁環境工学情報誌-
影响因子：
--
作者：
[T. Yamamoto, J. Kondoh, 市川 紀充]
通讯作者：
市川 紀充
静電気対策の基礎知識４：電気・電子機器の誤動作や故障
静电对策基础知识4：电气电子设备的故障及故障
静电对策基础知识4：电气电子设备的故障及故障
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
イプロス Tech Note 編集部
影响因子：
--
作者：
[Norimitsu Ichikawa, Kota Usuki, Fumiya Hatanaka, 井上 良太,宮本 康平,小林 大剛,植田 浩史,金 錫範,野口 聡, 市川 紀充, 間藤 昂允,井上 良太,植田 浩史,金 錫範,野口 聡, 植田 浩史,仲井 悠貴,井上 良太,金 錫範,石山 敦士,野口 聡,渡部 智則,長屋 重夫,福田 光宏,鷲尾 方一,東 達也, 市川 紀充, 井上 良太,井上 雄太,植田 浩史,金 錫範, Norimitsu Ichikawa, Hiroshi Ueda,Ryota Inoue,SeokBeom Kim,Yoshinori Yanagisawa,Yu Suetomi,Hideaki Maeda, 市川 紀充, Yoshihiro Osawa,Yuta Inoue,Ryota Inoue,Hiroshi Ueda,SEOKBEOM KIM, 市川 紀充]
通讯作者：
市川 紀充
Measurement of electrostatically induced voltages generated in two metal boxes using spark gaps and electromagnetic wave sensors
使用火花隙和电磁波传感器测量两个金属盒中产生的静电感应电压
使用火花隙和电磁波传感器测量两个金属盒中产生的静电感应电压
DOI：
10.1016/j.elstat.2018.07.003
发表时间：
2018
期刊：
Journal of Electrostatics
影响因子：
1.8
作者：
[Norimitsu Ichikawa, Kota Usuki, Fumiya Hatanaka, 井上 良太,宮本 康平,小林 大剛,植田 浩史,金 錫範,野口 聡, 市川 紀充, 間藤 昂允,井上 良太,植田 浩史,金 錫範,野口 聡, 植田 浩史,仲井 悠貴,井上 良太,金 錫範,石山 敦士,野口 聡,渡部 智則,長屋 重夫,福田 光宏,鷲尾 方一,東 達也, 市川 紀充, 井上 良太,井上 雄太,植田 浩史,金 錫範, Norimitsu Ichikawa, Hiroshi Ueda,Ryota Inoue,SeokBeom Kim,Yoshinori Yanagisawa,Yu Suetomi,Hideaki Maeda, 市川 紀充, Yoshihiro Osawa,Yuta Inoue,Ryota Inoue,Hiroshi Ueda,SEOKBEOM KIM, 市川 紀充, SEOKBEOM KIM,Hiroshi Ueda,Joto SASAKI,Kohei KAWAMURA,Ryota Inoue, 市川 紀充, 市川 紀充, Kazuki Kume,Ryota Inoue,Hiroshi Ueda,SEOKBEOM KIM, Yuki NAKAI,Yuta MIYAKE,Ryota INOUE,SeokBeom KIM,Hiroshi UEDA,So NOGUCHI,Tomonori WATANABE,Shigeo NAGAYA,Mitsuhiro FUKUDA,Atsushi ISHIYAMA, 市川 紀充, Yuta MIYAKE,Yuki NAKAI,Ryota INOUE,SeokBeom KIM,Hiroshi UEDA,So NOGUCHI,Tomonori WATANABE,Shigeo NAGAYA,Mitsuhiro FUKUDA,Atsushi ISHIYAMA, Norimitsu Ichikawa]
通讯作者：
Norimitsu Ichikawa
共 52 条
Study on prevention of malfunction of electronic equipment occurred by electrostatically induced voltage
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批准号：15K05952
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额：$3.16万
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财政年份：2015
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负责人：Ichikawa Norimitsu
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依托单位：