Analytical high performance (scanning)-transmission electron microscopeA-(S)TEM

新一代的分析透射电子显微镜通过简化操作，同时大大提高了分析能力。使用无窗sdd检测器，增加了可检测的立体角，可以检测到微量元素水平（低至100ppm）的化学成分，也可以检测到氮等轻元素。无窗，高灵敏度的探测器将导致样品吞吐量的急剧增加。完整fib切片的详细定量化学作图可以在几分钟内完成。光学和化学的空间分辨率将达到原子尺度。使用特殊设计的样品夹可以进行化学层析成像。HAADF检测器与能量色散分析一起将允许对样品进行快速和全面的概述。此外，电子能量损失谱（EELS）的使用，将使元素规格，如价（如Fe2+/Fe3+）和配位（如Si[4]/Si[6]）。洛伦兹透镜将使磁显微镜能够与上述方法相结合。最后，选定的区域衍射实验将完成任何样品材料的全面表征。广泛而广泛的分析选项与高度简化的操作相结合，这下一代分析tem彻底改变了可能的用途，并允许非tem专家访问该技术。这项建议所要求的新仪器将主要用于大量的地球科学和物理项目。整合到“法兰克福电子显微镜中心- FCEM”将导致高人员配置，并在中期扩展到生物化学和生物物理学领域的更广泛的用户群。磁显微学是一门科学，它是一门科学，它是一门科学。1 .研究对象为新一代分析对象，研究对象为新一代分析对象，研究对象为新一代分析对象，研究对象为新一代分析对象，研究对象为新一代分析对象，研究对象为新一代分析对象。该仪器已在《地球动力学》杂志上发表，并于primär《地球动力学》和《物理工程》杂志上发表。德国法兰克福电子显微镜研究中心（FCEM），德国法兰克福电子显微镜研究中心（FCEM），德国法兰克福电子显微镜研究中心（FCEM），德国法兰克福电子显微镜研究中心（FCEM）。

The next generation of analytical Transmission electron microscops captivates by a simplified operation and at the same time substantially improved analytical capabilities. The use of windowless SDD-detectors with increased detectable solid angle enables the detection of chemical compositions down to the trace element level (down to a few 100ppm) and towards light elements like nitrogen. The windowless, highly sensitive detectors will lead to a dramatic increase in sample throughput. Detailed quantitative chemical mapping of complete FIB-slices is possible within a few minutes. The spatial resolution for optical and chemical will reach the atomic scale. Chemical tomography will be possible by the use of specially design sample holders. A HAADF detector together with energy-dispersive analytics will allow a fast and comprehensive overview of the sample. In addition, the use of Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS), will enable element specification like valences (e.g. Fe2+/Fe3+) and coordination (e.g. Si[4]/Si[6]). A lorentz lense will enable magnetic microscopy which can be combined with the above mentioned methods. Finally, selected area diffraction experiments will complete the comprehensive characterization of any sample material.The wide and extensive analytical options in combination with highly simplified operation of this next generation analytical TEMs revolutionize the possible uses and allows access to this technique for non TEM-specialists.The novel instrument requested in this proposal will be used in a high number of primarily geoscientific and physical projects. The integration into the „Frankfurt Center of Electron Microscopy – FCEM“ will lead to a high staffing and on medium term to a wider user group extended to the fields of biochemistry and biophysics.Magnetische Mikroskopie ist durch kleinere Erweiterungen eine weitere wichtige Methodik, die mit den oben benannten chemischen Verfahren kombiniert wird. Letztendlich rundet die Durchführung von Feinbereichsbeugungsexperimenten die vollständige Charakterisierung der Proben ab.Die weitreichenden analytischen Optionen in Verbindung mit der deutlich erleichterten Bedienung der neuen Generation analytischer TEMs revolutionieren die Einsatzmöglichkeiten und erlauben auch nicht auf diese Technik spezialisierten Wissenschaftlern den Zugang.Das hier beantragte Instrument soll in einer Vielzahl von primär geowissenschaftlichen und physikalischen Projekten eingesetzt werden. Die Eingliederung in das „Frankfurt Center of Electron Microscopy – FCEM“ wird zu einer personell guten Ausgestaltung führen und mittelfristig die Nutzergruppe in die Bereiche der Biochemie und Biophysik erweitern.