Zweidimensionale Phasenübergänge unter Einfluß von Störungen

相位传感器的基本特性可以通过两种不同的电子器件的实验韦尔登来解决。在完全各向异性的可测量和可测量系统中，相位差的定量特征值在上述的可测量和可测量系统中是存在的。因此，在这方面，我们必须建立一个完整的系统，以确定韦尔登。受Fremdatomen的影响，设计出了一种新的结构，使细节和模型系统都得到了韦尔登。

Grundlegende Eigenschaften von Phasenübergängen in zwei Dimensionen sollen durch Beugungsexperimente mit langsamen Elektronen geklärt werden. Schwerpunkte in dieser Antragsphase sollen sein, einerseits quantitative Eigenschaften der Phasenübergänge in stark anisotropen kommensurablen und inkommensurablen Systemen. Andererseits soll in diesem und im Zusammenhang mit schon bekannten Systemen die Weiterentwicklung integrierender Methoden zur Bestimmung kritischer Eigenschaften betrieben werden. Der Einfluß von Fremdatomen als bewegliche und eingefrorene Defekte, sowie als strukturbildende Dotierungen, soll im Detail an den ausgewählten Modellsystemen untersucht werden.