Untersuchungen zum Einsatz des Konzepts synthetischer Aperturen in der Digitalen Holografie

数字全息照相，在CCD阵列的全息照相机上，以及在韦尔登的数字全息照相机上，都有一个用于计算的窗口。这是一种新的方法，它不仅是一种强度转换，而且也是一种数字全息图，一种相位转换。一个Nachteil是CCD阵列的一个组成部分。Die dadenge gegebene kleine aptur beautiful eine geringe laterale Auflösung bei gleichzeitig greßer Tiefenschärfe.但这并不是最好的方法。同样，在Partikelmeßtechnik中，也可以将一个Partikel努尔ungenau bestimmt韦尔登定位为最佳。Mit Hilfe des Konzepts synthetischer referen sollen wesentliche Fortschritte erzielt韦尔登.韦尔登成功地将数字全息图制作成一个完整的CCD阵列。在一个最初的解释韦尔登，这些信息构成了一个共同的全息图，在一个新的解释中，智慧是一个非常独特的全息图韦尔登。这是一个很好的CCD阵列的设计方法，它是一个综合性的设计方案。这些影响并不平行于CCD的强度，因此可以进行计算和比较。Konturmessung的错误Leistungsparameter sowohl在Partikellokalisation的情况下也是如此。

Die Digitale Holografie, bei der die Hologramme mittels CCD-Arrays aufgenommen und die Wellenfelder numerisch im Rechner rekonstruiert werden, weist eine Reihe von Vorteilen auf. Als wichtigster ist zu nennen, daß nicht nur eine Intensitätsverteilung, sondern auch aus nur einem digitalen Hologramm eine Phasenverteilung rekonstruiert wird. Ein Nachteil ist jedoch die geringe Größe des CCD-Arrays. Die dadurch gegebene kleine Apertur bewirkt eine geringe laterale Auflösung bei gleichzeitig großer Tiefenschärfe. Damit läßt sich der Konturverlauf von Tiefenvariationen von Oberflächen nicht präzise genug bestimmem. Auch in der Partikelmeßtechnik kann die Tiefenposition einzelner Partikel nur ungenau bestimmt werden. Mit Hilfe des Konzepts synthetischer Aperturen sollen hier wesentliche Fortschritte erzielt werden. Dazu werden gleichzeitig digitale Hologramme von mehreren an verschiedenen Orten angebrachten CCD-Arrays aufgezeichnet. In einem ersten Ansatz werden diese Informationen zu einem gemeinsamen Hologramm kombiniert, in einem weiteren Ansatz soll bei Wissen über die erwarteten Beugungsmuster das Hologramm extrapoliert werden. Hierzu sind geeignete Anordnungen von CCD-Arrays zu konzipieren und kombinierte Auswerteprogramme zu entwerfen. Die Einflüsse nicht parallel zueinander stehender CCDs sind zu erarbeiten und numerisch zu kompensieren. Die erreichbaren Leistungsparameter sowohl bei der Konturmessung als auch bei der Partikellokalisation als beispielhafte Anwendungen sind abzuschätzen.