Femtosekunden-Lasersystem zur Pump-Probe-Spektroskopie

该系统主要用于半导体材料中激光传输过程的实时光谱测量。泵-探头光谱测量仪可用于测量韦尔登中的激光束的动态能量（生命周期）。本文介绍了一种470 nm ~ 2.6μm波长的泵浦光脉冲，在单光子晶体中的应用。这些Exziton kann in unterrestedliche Folgezustände übergehen：Triplettexzitonen，Charge-Transfer Exzitonen，Exziplexe，Polaronpaare. Solche Zwischenzustände können den Ausgang der Hydrosikalischen Reaktionen and damit die Emissseigenschaften aber auch die Generation von freien Ladungen organische Halbleiter stark beeinflussen.在400 nm-11.000 nm波长范围内探测脉冲的中间产物是一种寿命短、吸收能力强的韦尔登。这种探测脉冲在有机半导体材料和有机有机半导体混合系统中的应用，是由最佳的太阳能和电子器件的最佳化所产生的。

Das beantragte Lasersystem dient der zeitaufgelösten spektroskopischen Untersuchung von Ladungstransferprozessen in organischen Halbleitermaterialien.Mittels Pump-Probe Spektroskopie sollen dynamische Vorgänge (Lebensdauern) von angeregten Zuständen im ps Sekunden Bereich gemessen werden. Dazu wird mittels eines im Wellenlängenbereich von 470nm bis 2.6μm variablen Pump- Pulses ein angeregter Zustand, in der Regel Singulett-Exzitonen, erzeugt. Dieses Exziton kann in unterschiedliche Folgezustände übergehen: Triplettexzitonen, Charge-Transfer Exzitonen, Exziplexe, Polaronpaare. Solche Zwischenzustände können den Ausgang der photophysikalischen Reaktionen und damit die Emissionseigenschaften aber auch die Generation von freien Ladungen organische Halbleiter stark beeinflussen. Mittels des Probe-Pulses können diese möglichen Folgezustände in einem Wellenlängenbereich von 400nm-11.000nm abgefragt und damit ihre Lebensdauern bestimmt werden.Dies ermöglicht ein tieferes Verständnis der Vorgänge in organischen Halbleitermaterialien und organischanorganischen Hybridsystemen, was neben der wissenschaftlichen Erkenntnis ebenso der Optimierung von Solarzellen und elektronischen Bauelementen aus jenen Materialien nützlich ist.