Ionic liquid gating reveals trap-filled limit mobility in low temperature amorphous zinc oxide
Ionic liquid gating reveals trap-filled limit mobility in low temperature amorphous zinc oxide
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离子液体门控揭示了低温非晶氧化锌中陷阱填充的极限迁移率
DOI：
10.1063/1.4824022
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发表时间：
2013
影响因子：
4
通讯作者：
M.L. Chabinyc
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
S. Bubel;S. Meyer;F. Kunze;M.L. Chabinyc
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