Special Session: On the Reliability of Conventional and Quantum Neural Network Hardware
Special Session: On the Reliability of Conventional and Quantum Neural Network Hardware
复制标题
特别会议：论传统和量子神经网络硬件的可靠性
DOI：
10.1109/vts52500.2021.9794194
复制
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Karimi, Naghmeh
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Sadi, Mehdi;He, Yi;Li, Yanjing;Alam, Mahabubul;Kundu, Satwik;Ghosh, Swaroop;Bahrami, Javad;Karimi, Naghmeh
登录
查看更多内容
人工智能和深度学习加速器的测试和良率损失降低
DOI：
--
发表时间：
2021
影响因子：
2.9
作者：
Mehdi Sadi;Ujjwal Guin
通讯作者：
Ujjwal Guin
深度学习加速器的高效功能现场自测试
DOI：
--
发表时间：
2021
期刊：
International Test Conference
影响因子：
--
作者：
Yi He;T. Uezono;Yanjing Li
通讯作者：
Yanjing Li
适用于汽车片上系统的有效功能安全解决方案
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
International Test Conference
影响因子：
--
作者：
Grigor Tshagharyan;Gurgen Harutunyan;Y. Zorian
通讯作者：
Y. Zorian
特别会议：AI/ML 硬件的可靠性分析
DOI：
10.1109/vts50974.2021.9441050
发表时间：
2021
期刊：
2021 IEEE 39th VLSI Test Symposium (VTS
影响因子：
--
作者：
Kundu, Shamik;Basu, Kanad;Sadi, Mehdi;Titirsha, Twisha;Song, Shihao;Das, Anup;Guin, Ujjwal
通讯作者：
Guin, Ujjwal
DeepDiagnosis：基于儿科医疗大数据的 DNN 诊断预测
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
International Conference on Advanced Cloud and Big Data
影响因子：
--
作者：
Jia Shi;Xiaoliang Fan;Jinzhun Wu;Jian Chen;Wenbo Chen
通讯作者：
Wenbo Chen