Determination of the Permittivity of Transmission Lines at Milli-Kelvin Temperatures
Determination of the Permittivity of Transmission Lines at Milli-Kelvin Temperatures
复制标题
毫开尔文温度下传输线介电常数的测定
DOI：
10.1109/access.2023.3286374
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
3.9
通讯作者：
Stanley M
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Stanley M
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用于表征毫开尔文温度下量子集成电路 S 参数的微波校准标准的设计
DOI：
--
发表时间：
2022
期刊：
European Microwave Conference
影响因子：
--
作者：
M. Stanley;S. D. de Graaf;T. Lindström;M. Salter;J. Skinner;N. Ridler
通讯作者：
N. Ridler
在毫开尔文温度下验证射频集成电路的 S 参数测量
影响因子：
1.1
作者：
M. Stanley;R. Parker;S. D. de Graaf;T. Lindström;J. Cunningham;N. Ridler
通讯作者：
N. Ridler
表征精密同轴空气管路作为毫开尔文温度下低温 S 参数测量的参考标准
DOI：
--
发表时间：
2023
期刊：
Intelligent Memory Systems
影响因子：
--
作者：
J. Skinner;M. Stanley;Jonas Urbonas;S. D. de Graaf;T. Lindström;N. Ridler
通讯作者：
N. Ridler
MMIC 和 PCB 设计的共面波导基础知识
影响因子：
3.6
作者：
W. Deal
通讯作者：
W. Deal
对高达 67 GHz 的基板介电常数和损耗进行分析和实验研究
DOI：
10.1109/apcc.2014.7091617
发表时间：
2015
期刊：
The 20th Asia-Pacific Conference on Communication (APCC2014)
影响因子：
--
作者：
P. Seiler;B. Klein;D. Plettemeier
通讯作者：
D. Plettemeier