Retarded boron and phosphorus diffusion in silicon nanopillars due to stress induced vacancy injection

Retarded boron and phosphorus diffusion in silicon nanopillars due to stress induced vacancy injection
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由于应力诱导空位注入,硅纳米柱中硼和磷扩散延迟

DOI:
10.1063/5.0078006
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发表时间:
2022
影响因子:
3.2
通讯作者:
H. Bracht
H. Bracht
中科院分区:
物理与天体物理3区
文献类型:
--
作者:
J. K. Prüßing;T. Böckendorf;F. Kipke;P. Puranto;J. L. Hansen;D. Bougeard;E. Peiner;H. Bracht

文献摘要

参考文献

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