Domain structure and multiferroic properties of epitaxial hexagonal ErMnO3 films
Domain structure and multiferroic properties of epitaxial hexagonal ErMnO3 films
复制标题
外延六方ErMnO3薄膜的畴结构和多铁性
DOI：
10.1016/j.jallcom.2019.153529
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发表时间：
2020-04
影响因子：
6.2
通讯作者：
Jun-Ming Liu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Yi Chen;Ye Li;Dongfeng Zheng;Leiyu Li;Min Zeng;Minghui Qin;Zhipeng Hou;Zhen Fan;Xingsen Gao;Xubing Lu;Qiliang Li;Jun-Ming Liu
采用脉冲激光沉积法在镀Pt的Al 2 O3衬底上生长了外延ErMnO 3薄膜。它们的结构、多铁性和铁电畴特性已被全面表征和研究。XRD测试表明，外延生长出了面外ErMnO 3（0001）//Pt（111）//Al 2 O3（0001）和面内ErMnO 3 [1000]//Pt [112 <$0]//Al 2 O3 [112 <$0]结构。沉积态的ErMnO 3薄膜具有可逆极化的自发铁电畴。在拉曼光谱中发现了1.3 μC/cm 2的剩余极化率和662 cm− 1处的活性峰，进一步表明了ErMnO 3薄膜的高质量。磁性测试结果表明，该薄膜具有优良的各向异性磁性能，其Neel温度为153 K。
Epitaxial ErMnO 3 thin films were grown on Pt-coated Al 2 O 3 substrate by pulsed laser deposition. Their structure, multiferroicity, and ferroelectric domain properties have been comprehensively characterized and studied. The XRD measurement indicated an excellent epitaxy of out-of-plane ErMnO 3 (0001)//Pt (111)//Al 2 O 3 (0001) and in-plane ErMnO 3 [1000]//Pt [11 2‾]//Al 2 O 3 [11 2‾ 0] structures. The as-deposited ErMnO 3 films exhibited spontaneous ferroelectric domains with reversible polarization. A significant remnant polarization of 1.3 μC/cm 2 and an active peak at 662 cm− 1 in Raman spectra were found, further showing a high quality of the ErMnO 3 thin films. Moreover, the magnetic measurements indicated that the thin film has an excellent anisotropic magnetic property with a Neel temperature at≈ 53 K.
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