Lateral force microscopy utilizing bimodal qPlus AFM with a long probe
Lateral force microscopy utilizing bimodal qPlus AFM with a long probe
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利用双峰 qPlus AFM 和长探针的横向力显微镜
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Sugimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Yamada;T. Ichii;T. Utsunomiya;K. Kimura;K. Kobayashi;H. Yamada;H. Sugimura
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影响因子：
3.7
作者：
Wastl, Daniel S.;Weymouth, Alfred J.;Giessibl, Franz J.
通讯作者：
Giessibl, Franz J.
影响因子：
8.6
作者：
Kawai, Shigeki;Canova, Filippo Federici;Foster, Adam S.
通讯作者：
Foster, Adam S.
影响因子：
4
作者：
Ooe, Hiroaki;Kirpal, Dominik;Giessibl, Franz J.
通讯作者：
Giessibl, Franz J.
影响因子：
17.1
作者：
Wastl, Daniel S.;Weymouth, Alfred J.;Giessibl, Franz J.
通讯作者：
Giessibl, Franz J.
DOI：
10.1073/pnas.182160599
发表时间：
2002-09-17
影响因子：
11.1
作者：
Giessibl, FJ;Herz, M;Mannhart, J
通讯作者：
Mannhart, J