A HW-dependent software model for cross-layer fault analysis in embedded systems
A HW-dependent software model for cross-layer fault analysis in embedded systems
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用于嵌入式系统跨层故障分析的硬件相关软件模型
DOI：
10.1109/latw.2016.7483356
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
W. Kunz
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
C. Bartsch;C. Villarraga;D. Stoffel;W. Kunz
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一种新的依赖于硬件的嵌入式系统软件形式化验证方法
DOI：
10.2197/ipsjtsldm.6.135
发表时间：
2013
期刊：
IPSJ Trans. Syst. LSI Des. Methodol.
影响因子：
--
作者：
Bernard Schmidt;Carlos Villarraga;Thomas Fehmel;J. Bormann;Markus Wedler;Minh D. Nguyen;D. Stoffel;W. Kunz
通讯作者：
W. Kunz
间歇性故障对精简指令集计算 (RISC) 微处理器可靠性的影响
影响因子：
5.9
作者：
J. Gracia;J. Baraza;D. Gil;L. J. Saiz;P. Gil
通讯作者：
P. Gil
分析和提高软件应用程序对硬件间歇性和永久性故障的鲁棒性
DOI：
10.1109/iccd.2013.6657076
发表时间：
2013
期刊：
2013 IEEE 31st International Conference on Computer Design (ICCD)
影响因子：
--
作者：
A. Sharma;Joseph Sloan;L. Wanner;Salma Elmalaki;M. Srivastava;Puneet Gupta
通讯作者：
Puneet Gupta
SymPLFIED：符号程序级故障注入和错误检测框架
DOI：
10.1109/dsn.2008.4630118
发表时间：
2008
期刊：
2008 IEEE International Conference on Dependable Systems and Networks With FTCS and DCC (DSN)
影响因子：
--
作者：
K. Pattabiraman;Nithin Nakka;Z. Kalbarczyk;R. Iyer
通讯作者：
R. Iyer
硬件视图中的软件：SoC 验证和测试中依赖于硬件的软件的新模型
DOI：
10.1109/test.2014.7035308
发表时间：
2014
期刊：
2014 International Test Conference
影响因子：
--
作者：
C. Villarraga;B. Schmidt;B. Bao;C. Bartsch;T. Fehmel;D. Stoffel;W. Kunz
通讯作者：
W. Kunz