Current-sensing scanning near-field optical microscopy using a metal probe for nanometer-scale observation of electrochromic film
Current-sensing scanning near-field optical microscopy using a metal probe for nanometer-scale observation of electrochromic film
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使用金属探针的电流感应扫描近场光学显微镜进行电致变色薄膜的纳米级观察
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
F.Iwata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
松村良之;木下麻奈子;藤本亮;山田裕子;藤田政博;小林千博;戸所 泰人;F.Iwata
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