Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL
Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL
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BFEL电子束束长度电光采样非同步延迟扫描测量
DOI：
10.1088/1674-1137/34/2/014
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发表时间：
2010
影响因子：
3.6
通讯作者：
Chen Sen-Yu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Sun Da-Rui;Xu Jin-Qiang;Chen Sen-Yu
电光取样延迟扫描技术可用于电子束团长度的测量。提出了一种基于电光采样测量的非同步延迟扫描技术。基于北京自由电子
The Electro-optical sampling delay scanning technique can be used for electron beam bunch length measurement. A novel non-synchronous delay scanning technique based on the electro-optical sampling measurements is presented. Based on Beijing Free Electron
影响因子：
--
作者：
H. Schlarb
通讯作者：
H. Schlarb
影响因子：
8.6
作者：
Wilke, I;MacLeod, AM;van der Meer, AFG
通讯作者：
van der Meer, AFG