Spatially resolved crack-tip stress analysis in semiconductor by cathodoluminescence piezospectroscopy
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通过阴极发光压电光谱法对半导体进行空间分辨裂纹尖端应力分析
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
G.PEZZOTTI
中科院分区：
文献类型：
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作者：
W.ZHU;A.A.PORPORATI;A.MATSUTANI;N.LAMA;G.PEZZOTTI
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影响因子：
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通讯作者：
J. Orton
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DOI：
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发表时间：
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通讯作者：
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通讯作者：
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