Use of grazing angle sputtering for improving depth resolution in high resolution RBS
Use of grazing angle sputtering for improving depth resolution in high resolution RBS
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使用掠角溅射提高高分辨率 RBS 中的深度分辨率
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Kimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
W.Sakai;K.Nakajima;M.Suzuki;K.Kimura
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在掠射条件下通过溅射制备原子级光滑表面
DOI：
10.1016/0039-6028(95)00228-6
发表时间：
1995
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. Holzwarth;M. Wissing;D. Simeonova;S. Tzanev;K. Snowdon;O. Yordanov
通讯作者：
O. Yordanov
使用新型环形静电分析仪对带电粒子进行角度分辨检测
DOI：
10.1016/0029-554x(82)90022-2
发表时间：
1982
期刊：
影响因子：
--
作者：
R. Smeenk;R. Tromp;H. Kersten;A. Boerboom;F. Saris
通讯作者：
F. Saris
Rossendorf 宽范围磁谱仪，用于高分辨率 RBS 和 NRA
DOI：
10.1016/s0168-583x(01)00579-1
发表时间：
2001
影响因子：
1.3
作者：
R. Grötzschel;Ch. Klein;O. Kruse
通讯作者：
O. Kruse
用于离子束分析的高分辨率磁谱仪
DOI：
10.1016/0168-583x(96)00259-5
发表时间：
1996
影响因子：
1.3
作者：
W. Arnoldbik;W. Wolfswinkel;D. K. Inia;V.C.G. Verleun;S. Lobner;J. Reinders;F. Labohm;D. Boerma
通讯作者：
D. Boerma
高分辨率静电光谱仪，用于通过 MeV 离子的高分辨率卢瑟福背散射研究固体中的近表面层
DOI：
10.1016/0168-583x(92)95585-f
发表时间：
1992
影响因子：
1.3
作者：
T. Enders;M. Rilli;H. Carstanjen
通讯作者：
H. Carstanjen