On the feasibility of handling manufacturing faults in embedded memories by software means
On the feasibility of handling manufacturing faults in embedded memories by software means
复制标题
浅谈软件手段处理嵌入式存储器制造故障的可行性
DOI:
10.1109/ecmsm.2015.7208698
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
F. Vater
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
M. Schölzel;P. Skoncej;F. Vater
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DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
Mario Scholzel
通讯作者:
Mario Scholzel
DOI:
10.1109/nvmts.2013.6632859
发表时间:
2013
期刊:
2012 12th Annual Non-Volatile Memory Technology Symposium Proceedings
影响因子:
--
作者:
Patryk Skoncej
通讯作者:
Patryk Skoncej
影响因子:
5.4
作者:
Kim YH;Kim SB;Choi SH;Nguyen TT;Ahn SH;Moon KS;Cho KH;Sim TY;Heo EJ;Kim ST;Jung HS;Jee JP;Choi HG;Jang DJ
通讯作者:
Jang DJ
DOI:
10.1109/pdp.2013.51
发表时间:
2013
期刊:
2013 21st Euromicro International Conference on Parallel, Distributed, and Network-Based Processing
影响因子:
--
作者:
Sebastian Müller;Mario Schölzel;H. Vierhaus
通讯作者:
H. Vierhaus
DOI:
10.1109/iccd.2011.6081441
发表时间:
2011
期刊:
2011 IEEE 29th International Conference on Computer Design (ICCD)
影响因子:
--
作者:
Da Cheng;S. Gupta
通讯作者:
S. Gupta