On the feasibility of handling manufacturing faults in embedded memories by software means

On the feasibility of handling manufacturing faults in embedded memories by software means
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浅谈软件手段处理嵌入式存储器制造故障的可行性

DOI:
10.1109/ecmsm.2015.7208698
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发表时间:
2015
期刊:
2015 IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and their Application to Mechatronics (ECMSM)
影响因子:
--
通讯作者:
F. Vater
F. Vater
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
M. Schölzel;P. Skoncej;F. Vater

文献摘要

参考文献

被引文献

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