In-plane refractive index anisotropy in porous silicon layers induced by polarized illumination during electrochemical etching
In-plane refractive index anisotropy in porous silicon layers induced by polarized illumination during electrochemical etching
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电化学蚀刻过程中偏振照明引起的多孔硅层的面内折射率各向异性
DOI:
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发表时间:
2004
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
H.Koyama
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
H.Yokomichi;et al;H.Koyama
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DOI:
10.1063/1.112946
发表时间:
1994
期刊:
影响因子:
--
作者:
H. Koyama;T. Nakagawa;T. Ozaki;N. Koshida
通讯作者:
N. Koshida
DOI:
10.1063/1.363526
发表时间:
1996
期刊:
影响因子:
--
作者:
M. Araki;H. Koyama;N. Koshida
通讯作者:
N. Koshida
DOI:
10.1557/proc-452-541
发表时间:
1996
期刊:
MRS Proceedings
影响因子:
--
作者:
G. Polisski;B. Averboukh;D. Kovalev;F. Koch
通讯作者:
F. Koch
影响因子:
4
作者:
C. Oton;Z. Gaburro;M. Ghulinyan;L. Pancheri;P. Bettotti;L. D. Negro;Lorenzo Pavesi
通讯作者:
Lorenzo Pavesi
DOI:
10.1088/0022-3727/27/6/035
发表时间:
1994
期刊:
Journal of Physics D
影响因子:
--
作者:
M. Berger;C. Dieker;M. Thönissen;L. Vescan;H. Lüth;H. Münder;W. Theiß;M. Wernke;P. Grosse
通讯作者:
P. Grosse