In-plane refractive index anisotropy in porous silicon layers induced by polarized illumination during electrochemical etching

In-plane refractive index anisotropy in porous silicon layers induced by polarized illumination during electrochemical etching
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电化学蚀刻过程中偏振照明引起的多孔硅层的面内折射率各向异性

DOI:
--
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发表时间:
2004
期刊:
Journal of Applied Physics 96・7
影响因子:
--
通讯作者:
H.Koyama
H.Koyama
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
H.Yokomichi;et al;H.Koyama

文献摘要

参考文献

被引文献

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