Displacement Current Measurement as a Tool to Characterize Organic Field Effect Transistors
Displacement Current Measurement as a Tool to Characterize Organic Field Effect Transistors
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位移电流测量作为表征有机场效应晶体管的工具
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S.Ogawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ogawa Y.;et al.;K.Ueno;S.Ogawa
影响因子：
3.2
作者：
Rost, C;Gundlach, DJ;Riess, W
通讯作者：
Riess, W
《用位移电流测量法研究有机场效应晶体管的载流子注入特性》
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
Jpn. J. Appl. Phys. 42
影响因子：
--
作者：
N.Abiko;S.Ogawa;Naofumi Abiko;Satoshi Ogawa;N.Abiko;S.Ogawa;T.Nishikawa;S.Ogawa;Koshi Okamura;石井 久夫;H.Ishii;S.Ogawa;Y.Hosoi;T.Nishikawa;K.Okamura;H.Ishii;H.Ishii;S.Ogawa;S.Ogawa;H.Ishii;石井 久夫;Koshi Okamura;石井 久夫;小川 賢;H.Ishii;K.Sugi;K.Okamura;H.Ishii;S.Ogawa;H.Ishii;K.Sugi;K.Okamura;K.Okamura;K.Sugi;小川 賢;石井久夫;岡村 康史;小川 賢;杉 啓司;H.Ishii;K.Sugi;S.Ogawa;S.Ogawa
通讯作者：
S.Ogawa
影响因子：
1.5
作者：
S. Egusa;A. Miura;Nobuhiro Azuma
通讯作者：
Nobuhiro Azuma