Statistical Analysis and Modeling of Random Telegraph Noise Based on Gate Delay Variation Measurement
Statistical Analysis and Modeling of Random Telegraph Noise Based on Gate Delay Variation Measurement
复制标题
基于门延迟变化测量的随机电报噪声统计分析和建模
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Hidetoshi Onodera
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.K.M. Mahfuzul Islam;Tatsuya Nakai;and Hidetoshi Onodera
利用对数正态延迟分布提取与灵敏度无关的 Vth 变化
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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作者：
A.K.M.Mahfuzul Islam;Hidetoshi Onodera
通讯作者：
Hidetoshi Onodera
使用片上表征系统分析 45 nm CMOS 中的随机电报噪声
影响因子：
3.1
作者：
S. Realov;K. Shepard
通讯作者：
K. Shepard
使用拓扑可重构环形振荡器对单个晶体管进行原位可变性表征
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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作者：
A.K.M. Mahfuzul Islam;and Hidetoshi Onodera
通讯作者：
and Hidetoshi Onodera