Traces of iron impurities in copper sources can be a poison to Cu(In, Ga)Se 2 solar cells
Traces of iron impurities in copper sources can be a poison to Cu(In, Ga)Se 2 solar cells
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铜源中的微量铁杂质可能对 Cu(In, Ga)Se 2 太阳能电池有毒
DOI：
10.1002/nano.202100296
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发表时间：
2021-12
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Xudong Xiao
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zengyang Ma;Duoqi Gao;Junjun Zhang;Xinxin Liu;Jianmin Li;Junbo Gong;Xudong Xiao
铁从不锈钢衬底上的扩散对Cu（In，Ga）Se2（CIGS）太阳能电池的性能具有不利影响已被广泛接受。而铜源中微量铁杂质的影响一直可以忽略不计。在这项工作中，99.97%纯度的铜，其中仅含有0.03%的铁被用来制作CIGS器件。与99.99%纯度的铜相比，已经表明，该0.03%的纯度差异可以导致CuGaSe 2（CGS）的70%的效率提高，正常带隙CIGS的35%的效率提高，以及窄带隙CIGS的29%的效率提高。这些结果表明，铜源中的微量铁杂质可能对CIGS太阳能电池是致命的毒药。
It has been widely accepted that the diffusion of iron from stainless steel substrates has detrimental impact on Cu(In, Ga)Se2(CIGS) solar cell performance. However, the effect of traces of iron impurities in copper sources can be neglected all the time. In this work, 99.97% purity copper which contains only 0.03% iron was used to fabricate CIGS devices. Compared to the copper of 99.99% purity, it has been showed that this 0.03% difference in purity can lead to a 70% efficiency improvement for CuGaSe2(CGS), 35% efficiency improvement for normal band gap CIGS, and 29% efficiency improvement for narrow band gap CIGS. These results revealed that traces of iron impurities in copper sources can be a fatal poison to CIGS solar cells.
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DOI：
10.1002/pip.2748
发表时间：
2016-07
期刊：
Progress in Photovoltaics: Research and Applications
影响因子：
--
作者：
Jakapan Chantana;Daisuke Hironiwa;Taichi Watanabe;Seiki Teraji;T. Minemoto
通讯作者：
Jakapan Chantana;Daisuke Hironiwa;Taichi Watanabe;Seiki Teraji;T. Minemoto
影响因子：
56.9
作者：
Han, Qifeng;Hsieh, Yao-Tsung;Yang, Yang
通讯作者：
Yang, Yang
影响因子：
13.1
作者：
Ibdah, Abdel-Rahman A.;Koirala, Prakash;Collins, Robert W.
通讯作者：
Collins, Robert W.
影响因子：
6.7
作者：
Eisenbarth, Tobias;Caballero, Raquel;Unold, Thomas
通讯作者：
Unold, Thomas
DOI：
10.1002/pip.1247
发表时间：
2012-05
期刊：
Progress in Photovoltaics: Research and Applications
影响因子：
--
作者：
F. Pianezzi;A. Chirilă;P. Blösch;S. Seyrling;S. Buecheler;L. Kranz;C. Fella;A. N. Tiwari
通讯作者：
F. Pianezzi;A. Chirilă;P. Blösch;S. Seyrling;S. Buecheler;L. Kranz;C. Fella;A. N. Tiwari