Performance Analysis of Interaction-Free-Measurement-based Electron Microscopy
Performance Analysis of Interaction-Free-Measurement-based Electron Microscopy
复制标题
基于无交互测量的电子显微镜的性能分析
DOI：
10.1017/s1431927619001491
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发表时间：
2019
影响因子：
2.8
通讯作者：
Berggren, Karl K.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Agarwal, Akshay;Goyal, Vivek;Berggren, Karl K.
扫描透射电子显微镜中的路径分离电子干涉测量
DOI：
10.1088/1361-6463/aabc47
发表时间：
2018
期刊：
Journal of Physics D: Applied Physics
影响因子：
--
作者：
F. Yasin;Tyler R. Harvey;J. Chess;J. Pierce;B. McMorran
通讯作者：
B. McMorran
纳米制造的单片路径分离电子干涉仪
影响因子：
4.6
作者：
A. Agarwal;Chung;R. Hobbs;D. Dyck;K. Berggren
通讯作者：
K. Berggren
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
A. Tavabi;M. Duchamp;V. Grillo;R. Dunin‐Borkowski;G. Pozzi
通讯作者：
G. Pozzi