Detecting Real Oxygen Ions in Polycrystalline Diamond Thin Film using Secondary
Detecting Real Oxygen Ions in Polycrystalline Diamond Thin Film using Secondary
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使用二次检测多晶金刚石薄膜中的真实氧离子
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Ikuhara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Nakagawa;I.Sakaguchi;H.Haneda;Y.Ikuhara
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影响因子：
4
作者：
H. Kawarada;T. Tsutsumi;H. Hirayama;A. Yamaguchi
通讯作者：
H. Kawarada;T. Tsutsumi;H. Hirayama;A. Yamaguchi
通过微波辅助化学气相沉积生长的 Si(100) 基底上单个金刚石颗粒的氢检测
影响因子：
1.5
作者：
I. Sakaguchi
通讯作者：
I. Sakaguchi
CVD金刚石中的轻元素杂质
影响因子：
4.1
作者：
G. Dollinger;A. Bergmaier;C. M. Frey;M. Roesler;H. Verhoeven
通讯作者：
H. Verhoeven
硅上 CVD 金刚石薄膜界面处的氧
影响因子：
4.1
作者：
A. Bergmaier;M. Schreck;G. Dollinger;O. Schmelmer;K. Thürer;B. Stritzker
通讯作者：
B. Stritzker
金刚石 (100) 上的氘-氧交换——ERDA、RBS 和 TOF-SIMS 的研究
影响因子：
4.1
作者：
K. Loh;X. Xie;Xuanjun Zhang;E. Teo;T. Osipowicz;M. Lai;N. Yakovlev
通讯作者：
N. Yakovlev