Mapping of ferroelectric domain structure using angle-resolved piezoresponse force microscopy.
Mapping of ferroelectric domain structure using angle-resolved piezoresponse force microscopy.
复制标题
使用角度分辨压电响应力显微镜绘制铁电域结构。
DOI：
10.1063/1.4905334
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kim KL
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kim KL
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影响因子：
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通讯作者：
K. L. Kim;N. Tsou;J. Huber
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