Fine-Grained Access Management in Reconfigurable Scan Networks
Fine-Grained Access Management in Reconfigurable Scan Networks
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可重构扫描网络中的细粒度访问管理
DOI：
10.1109/tcad.2015.2391266
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发表时间：
2015
影响因子：
2.9
通讯作者：
H.-J. Wunderlich
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
R. Baranowski;M.A. Kochte;H.-J. Wunderlich
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安全感知 SoC 测试访问机制
DOI：
10.1109/vts.2011.5783765
发表时间：
2011
期刊：
29th VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Kurt Rosenfeld;R. Karri
通讯作者：
R. Karri
不要忘记锁定您的 SIB：使用 P1687 隐藏仪器
DOI：
10.1109/test.2013.6651903
发表时间：
2013
期刊：
2013 IEEE International Test Conference (ITC)
影响因子：
--
作者：
Jennifer Dworak;A. Crouch;John C. Potter;Adam Zygmontowicz;Micah Thornton
通讯作者：
Micah Thornton
DOI：
10.18419/opus-3246
发表时间：
2014
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
R. Baranowski
通讯作者：
R. Baranowski
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
作者：
N. Stollon
通讯作者：
N. Stollon
保护对可重新配置扫描网络的访问
DOI：
10.1109/ats.2013.61
发表时间：
2013
期刊：
2013 22nd Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
R. Baranowski;M. Kochte;H. Wunderlich
通讯作者：
H. Wunderlich