Detection Sensitivity Limit of Hundreds of Atoms with X-Ray Fluorescence Microscopy
Detection Sensitivity Limit of Hundreds of Atoms with X-Ray Fluorescence Microscopy
复制标题
X 射线荧光显微镜对数百个原子的检测灵敏度极限
DOI：
10.48550/arxiv.2310.03409
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Masteghin M
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Masteghin M
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影响因子：
3.7
作者：
Le, Nguyen H.;Fisher, Andrew J.;Ginossar, Eran
通讯作者：
Ginossar, Eran
影响因子：
16.6
作者：
通讯作者：
--
半导体层中的同步加速器微束 X 射线辐射损伤
DOI：
--
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
作者：
S. Polvino;C. Murray;Özgür Kalenci;I. C. Noyan;B. Lai;Z. Cai
通讯作者：
Z. Cai
影响因子：
3.2
作者：
Raecke, P.;Meijer, J.;Spemann, D.
通讯作者：
Spemann, D.
影响因子：
64.8
作者：
Voyles, PM;Muller, DA;Gossmann, HJL
通讯作者：
Gossmann, HJL