Smallest phase-changes marks in amorphous and crystalline Ge_2Sb_2Te_5 films
Smallest phase-changes marks in amorphous and crystalline Ge_2Sb_2Te_5 films
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非晶态和晶态Ge_2Sb_2Te_5薄膜中的最小相变标记
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K. Tanaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Yamada;M.Suzuki;K. Tanaka;K. Tanaka;K. Tanaka
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DOI：
10.1143/jjap.45.1204
发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
--
作者：
H. Tabata;Kenji Tokui;S. Higuchi;H. Moriizumi;I. Matsumoto
通讯作者：
I. Matsumoto
DOI：
10.1143/jjap.44.3537
发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. Shinoda;Kimihiro Saito;T. Ishimoto;T. Kondo;A. Nakaoki;Naoki Ide;M. Furuki;M. Takeda;Y. Akiyama;T. Shimouma;Masanobu Yamamoto
通讯作者：
Masanobu Yamamoto
用扫描隧道显微镜诱导碲化物薄膜的纳米级相变。
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Japanese Journal of Applied Physics 43(5B)
影响因子：
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作者：
K.Sugawara;T.Gotoh;K.Tanaka
通讯作者：
K.Tanaka
使用电扫描探针显微镜观察 Ge-Sb-Te 薄膜的纳米级相变
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials 6(4)
影响因子：
--
作者：
K.Tanaka;T.Gotoh;K.Sugawara
通讯作者：
K.Sugawara
扫描探针显微镜和光谱学对纳米级结构研究和制造的贡献*
DOI：
10.1116/1.587032
发表时间：
1994
期刊：
影响因子：
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作者：
R. Wiesendanger
通讯作者：
R. Wiesendanger