Multiple ionization of neon by soft x-rays at ultrahigh intensity
Multiple ionization of neon by soft x-rays at ultrahigh intensity
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超高强度软 X 射线对氖气的多次电离
DOI：
10.1088/0953-4075/46/16/164025
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K. Tiedtke
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
R. Guichard;M Richter;J.-M. Rost;U. Saalmann;A. A. Sorokin;K. Tiedtke
在自由电子激光 FLASH 中，在 93.0 和 90.5 eV 的光子能量下定量研究了氖原子的多重电离。对于高达 6+ 的离子电荷态，我们将各自的绝对光电离产率与最小模型和包括标准顺序和直接光电离通道的详细描述的结果进行比较。两种方法都基于速率方程并考虑激光束的高斯空间强度分布。从比较中，我们得出结论，高达 5+ 电荷的光电离可以通过最小模型来描述，我们将其解释为电子震动过程辅助的顺序光电离。对于更高的电荷，实验电离产率系统地超过了基于速率的精心预测。
At the free-electron laser FLASH, multiple ionization of neon atoms was quantitatively investigated at photon energies of 93.0 and 90.5 eV. For ion charge states up to 6+, we compare the respective absolute photoionization yields with results from a minimal model and an elaborate description including standard sequential and direct photoionization channels. Both approaches are based on rate equations and take into account a Gaussian spatial intensity distribution of the laser beam. From the comparison we conclude that photoionization up to a charge of 5+ can be described by the minimal model which we interpret as sequential photoionization assisted by electron shake-up processes. For higher charges, the experimental ionization yields systematically exceed the elaborate rate-based prediction.
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M. Richter
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M. Richter