High performance bistable weak physical unclonable function for IoT security
High performance bistable weak physical unclonable function for IoT security
复制标题
用于物联网安全的高性能双稳态弱物理不可克隆功能
DOI：
10.1587/elex.15.20180879
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发表时间：
2018-10
影响因子：
0.8
通讯作者：
Huihong Zhang
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Gang Li;Pengjun Wang;Huihong Zhang
提出了一种采用65 nm标准工艺实现的高性能物理不可克隆功能(PUF)。PUF单元来源于SRAM-PUF单元，但它只使用NMOS或PMOS交叉耦合结构和两个额外的存取晶体管。两个交叉耦合晶体管之间的随机工艺变化被数字化以产生一位输出。版图后仿真结果表明，2k位PUF具有很高的随机性和唯一性，并且具有以下优良特性：(1)小的PUF单元，最小特征尺寸为240F2；(2)标称为1.2V时的高能量ffi效率为17.3fJ/b；(3)出色的稳定性：在宽温度范围(−40-100°C)和10%V DD变化范围内，误码率仅为2.6%。
: This paper proposes a high performance physical unclonable function (PUF) implemented in a standard 65 nm CMOS process. The PUF cell is derived from SRAM-PUF cell, but it only use the NMOS or PMOS cross coupling structure with two additional access transistors. Random process variations between two cross coupling transistors are digitized to produce one bit output. Post-layout simulation results show that the 2k-bit PUF has high randomness and uniqueness, and it has some excellent features: (1) small PUF cell with a minimum feature size of 240F 2 ; (2) high energy e ffi ciency of 17.3 fJ / b at nominal 1.2 V; (3) excellent stability: only 2.6% bit-error-rate (BER) across a wide temperature range ( − 40 – 100 °C) and 10% V DD variations.
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DOI：
10.1109/tvlsi.2016.2606658
发表时间：
2017-03
影响因子：
2.8
作者：
Fatemeh Tehranipoor;Nima Karimian;Wei Yan;J. Chandy
通讯作者：
Fatemeh Tehranipoor;Nima Karimian;Wei Yan;J. Chandy
影响因子：
20.6
作者：
Herder, Charles;Yu, Meng-Day (Mandel);Devadas, Srinivas
通讯作者：
Devadas, Srinivas
影响因子：
1.1
作者：
S. Tao;E. Dubrova
通讯作者：
S. Tao;E. Dubrova
影响因子：
3.7
作者：
Holcomb, Daniel E.;Burleson, Wayne P.;Fu, Kevin
通讯作者：
Fu, Kevin
DOI：
10.1109/tifs.2013.2279798
发表时间：
2013-11-01
影响因子：
6.8
作者：
Ruehrmair, Ulrich;Soelter, Jan;Devadas, Srinivas
通讯作者：
Devadas, Srinivas