Atomic structure of threading dislocations in AIN thin films
Atomic structure of threading dislocations in AIN thin films
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AIN 薄膜中螺纹位错的原子结构
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yuki Tokumoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. L. Chen;J.-G. Lee;K. Arakawa;and H. Mori;Yuki Tokumoto
AlN 薄膜中螺纹位错的结构分析
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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作者：
Y. Tokumoto;N. Shibata;T. Mizoguchi;T. Yamamoto;Y. Ikuhara
通讯作者：
Y. Ikuhara
AlN 薄膜位错阵列的 HRTEM 观察
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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作者：
Y. Tokumoto;N. Shibata;T. Mizoguchi;T. Yamamoto;Y. Ikuhara
通讯作者：
Y. Ikuhara
AlN 刃型位错的理论研究
DOI：
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发表时间：
1998
期刊：
影响因子：
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作者：
A. F. Wright;J. Furthmüller
通讯作者：
J. Furthmüller