HRTEM observation of dislocation arrays in AlN thin films
HRTEM observation of dislocation arrays in AlN thin films
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AlN 薄膜位错阵列的 HRTEM 观察
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
Y. Ikuhara
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Y. Tokumoto;N. Shibata;T. Mizoguchi;T. Yamamoto;Y. Ikuhara
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DOI:
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发表时间:
1988
期刊:
影响因子:
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作者:
Y. Koide;N. Itoh;K. Itoh;N. Sawaki;I. Akasaki
通讯作者:
I. Akasaki
影响因子:
3.7
作者:
J. Northrup;J. Neugebauer
通讯作者:
J. Neugebauer
影响因子:
1.6
作者:
Y. Ikuhara;P. Pirouz;A. Heuer;S. Yadavalli;C. P. Flynn
通讯作者:
C. P. Flynn
DOI:
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发表时间:
2002
期刊:
影响因子:
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作者:
D. Cherns;Yiqian Wang;R. Liu;F. Ponce
通讯作者:
F. Ponce