Control of valley-splitting in silicon-on-insulator MOSFET's
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绝缘体上硅 MOSFET 谷分裂的控制
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Takashina
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Yammouch;K. Okada;and K. Masu;大成博文;K.Takashina
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亚微米 MOSFET 的自热和温度测量
DOI：
10.1007/978-3-642-52314-4_141
发表时间：
1989
期刊：
ESSDERC '89: 19th European Solid State Device Research Conference
影响因子：
--
作者：
P.G. Mautry;J. Trager
通讯作者：
J. Trager
液氦环境中亚微米 MOS 晶体管自热的实验测定
影响因子：
4.9
作者：
E. Gutiérrez;L. Deferm;G. Declerck
通讯作者：
G. Declerck
薄膜 SOI MOSFET 中自热效应随温度变化的分析和建模
影响因子：
1.7
作者：
J. Jomaah;G. Ghibaudo;F. Balestra
通讯作者：
F. Balestra
DOI：
10.1109/asdam.2008.4743327
发表时间：
2008
期刊：
2008 International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems
影响因子：
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作者：
Yu. M. Shwarts;M. Shwarts;S. Sapon
通讯作者：
S. Sapon
DOI：
10.1016/j.micpro.2019.02.004
发表时间：
2018
期刊：
Microprocess. Microsystems
影响因子：
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作者：
Jeroen P. G. van Dijk;E. Charbon;F. Sebastiano
通讯作者：
F. Sebastiano