Surface Potential Measurement of TiO2(110) by Using Atomic Force microscopy (AFM)/Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
Surface Potential Measurement of TiO2(110) by Using Atomic Force microscopy (AFM)/Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
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使用原子力显微镜 (AFM)/开尔文探针力显微镜 (KPFM) 测量 TiO2(110) 的表面电位
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. F. Wen and Y. J. Li
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Sugawara;L. Kou;R. Kanbarashi;H. F. Wen and Y. J. Li
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