W-Band LNA MMICs Based on a Noise-Optimized 50-nm Gate-Length Metamorphic HEMT Technology

W-Band LNA MMICs Based on a Noise-Optimized 50-nm Gate-Length Metamorphic HEMT Technology
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基于噪声优化的 50 nm 门长变质 HEMT 技术的 W 频段 LNA MMIC

DOI:
10.1109/mwsym.2019.8700792
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发表时间:
2019
期刊:
2019 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS)
影响因子:
--
通讯作者:
O. Ambacher
O. Ambacher
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
F. Thome;A. Leuther;F. Heinz;O. Ambacher

文献摘要

参考文献

被引文献

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