Reliable design of SiC MOSFET power modules: experimental characterization for aging prediction
Reliable design of SiC MOSFET power modules: experimental characterization for aging prediction
复制标题
SiC MOSFET 功率模块的可靠设计：老化预测的实验表征
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Alberto Castellazzi and Tsuyoshi Funaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shuhei Fukunaga;Alberto Castellazzi and Tsuyoshi Funaki
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基于多目标电热设计策略的SiC功率模块芯片布局优化
影响因子：
1.7
作者：
Fukunaga Shuhei;Funaki Tsuyoshi
通讯作者：
Funaki Tsuyoshi
DOI：
10.1109/3d-peim49630.2021.9497265
发表时间：
2021
期刊：
2021 Third International Symposium on 3D Power Electronics Integration and Manufacturing (3D-PEIM)
影响因子：
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作者：
A. Castellazzi
通讯作者：
A. Castellazzi
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
Nonlinear Theory and Its Applications IEICE
影响因子：
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作者：
Shuhei Fukunaga;T. Funaki
通讯作者：
T. Funaki
用于预测并联 SiC MOSFET 和模块寿命的统计电热仿真
DOI：
10.1109/ieses45645.2020.9210690
发表时间：
2020
期刊：
2020 2nd IEEE International Conference on Industrial Electronics for Sustainable Energy Systems (IESES)
影响因子：
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作者：
A. Borghese;M. Riccio;A. Castellazzi;L. Maresca;G. Breglio;A. Irace
通讯作者：
A. Irace