Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment
Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment
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逻辑测试环境中晶体管短路的诊断
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Kobayashi and Y. Takamatsu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Higami;K. K. Saluja;H. Takahasi;K. Kobayashi and Y. Takamatsu
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用于故障定位的缺陷模型与 Iddq 测量的比较
DOI：
10.1109/test.1992.527900
发表时间：
1992
期刊：
Proceedings International Test Conference 1992
影响因子：
--
作者：
R. Aitken
通讯作者：
R. Aitken
DOI：
10.1109/iccad.1995.480011
发表时间：
1995
期刊：
Proceedings of IEEE International Conference on Computer Aided Design (ICCAD)
影响因子：
--
作者：
D. B. Lavo;Brian Chess;T. Larrabee;F. Ferguson
通讯作者：
F. Ferguson
使用固定故障模拟进行桥梁故障诊断
DOI：
10.1109/43.838998
发表时间：
2000
期刊：
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
影响因子：
--
作者：
Jue Wu;E. Rudnick
通讯作者：
E. Rudnick
通过 I/sub DDQ/测量进行晶体管漏电故障定位
DOI：
10.1109/ats.1995.485316
发表时间：
1995
期刊：
Proceedings of the Fourth Asian Test Symposium
影响因子：
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作者：
X. Wen;H. Tamamoto;K. Kinoshita
通讯作者：
K. Kinoshita
使用自适应仿真、状态存储和路径跟踪诊断时序电路中的桥接故障
DOI：
10.1109/test.1997.639702
发表时间：
1997
期刊：
Proceedings International Test Conference 1997
影响因子：
--
作者：
S. Venkataraman;W. Fuchs
通讯作者：
W. Fuchs