Probing electric and magnetic fields with a Moiré deflectometer
Probing electric and magnetic fields with a Moiré deflectometer
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使用莫尔偏转仪探测电场和磁场
DOI：
10.1016/j.nima.2017.04.041
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发表时间：
2017
影响因子：
1.4
通讯作者：
M.K. Oberthaler
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
P. Lansonneur;P. Bräunig;A. Demetrio ;S.R. Müller;P. Nedelec;M.K. Oberthaler
本文提出了一种新的非接触式电磁场同时测量方法。该方法采用低能离子源、三个透射光栅和位置灵敏探测器。最近用反质子进行了测试（Aghion等人，2014年）[1]在欧洲核子研究中心反质子减速器设施，本文扩展了莫尔偏转仪的原理证明（Oberthaler等人，1996年）[2]用于区分电场和磁场，并在不受离子源强度限制的情况下开辟了精确测量的途径。该装置的分辨率主要受散粒噪声的限制，能测量低至9 mVm−1Hz−1/2的电场分量和100μG Hz−1/2的磁场分量。光栅的间距为100 nm，使用当前最先进的技术[3]，莫尔场计将能够测量低至22 μVm−1Hz−1/2和0.2μG Hz−1/2的场。
A new contact-free approach for measuring simultaneously electric and magnetic field is reported, which considers the use of a low energy ion source, a set of three transmission gratings and a position sensitive detector. Recently tested with antiprotons (Aghion et al., 2014) [1] at the CERN Antiproton Decelerator facility, this paper extends the proof of principle of a moiré deflectometer (Oberthaler et al., 1996) [2] for distinguishing electric from magnetic fields and opens the route to precision measurements when one is not limited by the ion source intensity. The apparatus presented, whose resolution is mainly limited by the shot noise is able to measure fields as low as 9 mVm−1Hz−1/2for electric component and 100μG Hz−1/2for the magnetic component. Scaled to 100 nm pitch for the gratings, accessible with current state-of-the-art technology [3], the moiré fieldmeter would be able to measure fields as low as 22 μVm−1Hz−1/2and 0.2μG Hz−1/2.
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通讯作者：
Zmeskal, J.