Don't-care identification on specific bits of test patterns
Don't-care identification on specific bits of test patterns
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不关心测试模式特定位的识别
DOI：
10.1109/iccd.2002.1106769
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
S. Reddy
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Miyase;S. Kajihara;I. Pomeranz;S. Reddy
给定固定故障的测试集，可以将主输入值更改为相反的逻辑值，而不会丢失故障覆盖范围。人们可以将这样的值视为无关(X)。可以适当地填充无关值，以实现测试压缩、测试数据压缩或在测试期间降低功耗。然而，如果可以将无关放置在测试图案的期望/特定比特位置，则更好地服务于这些用途。本文提出了一种在给定测试向量的特定比特上最大限度地确定X的方法。在ISCAS基准电路上的实验结果表明，与以前提出的方法相比，该方法可以增加特定比特上的X个数。
Given a test set for stuck-at faults, a primary input value may be changed to the opposite logic value without losing fault coverage. One can regard such a value as a don't-care (X). The don't care values can be filled appropriately to achieve test compaction, test data compression, or power reduction during testing. However, these uses are better served if the don't cares can be placed in desired/specific bit positions of the test patterns. In this paper, we present a method for maximally fixing Xs on specific bits of given test vectors. Experimental results on ISCAS benchmark circuits show how the proposed method can increase the number of Xs on specific bits compared with an earlier proposed method.
DOI：
10.1109/vts.2002.1011119
发表时间：
2002-04
期刊：
Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002)
影响因子：
--
作者：
S. Reddy;K. Miyase;S. Kajihara;I. Pomeranz
通讯作者：
S. Reddy;K. Miyase;S. Kajihara;I. Pomeranz
DOI：
--
发表时间：
2004
期刊：
IEICE Trans.Info.and Syst. Vol.E87-D, No.3
影响因子：
--
作者：
S.Kajihara;K.Taniguchi;K.Miyase;I.Pomeranz;S.M.Reddy
通讯作者：
S.M.Reddy